✨ 3-step Inspection Module Integrated Monitor ✨

프로젝트 기간 및 인원

기간 : 2024.10.14 ~ 2024.11.25 (6주)
인원 : 4명 (FE 1명, BE 2명, INFRA 1명)

✨PRIZE✨

삼성 청년 SW 아카데미 자율프로젝트 우수상

✨ 서비스 소개 ✨

기존 SEMES 기업은 반도체 포토 공정에서 검사 과정은 검사 모듈에 개별적으로 접근하여 결과를 확인했다. 따라서 개별적으로 접근하는 불편함을 없애고자 검사 결과를 통합적으로 모니터링하는 시스템을 구축하고자 함

시스템 아키텍처

주요 기능

1. 웨이퍼 목록 조회

• 날짜별 조회 : 날짜를 지정하여 웨이퍼 목록을 조회
• 필터링/정렬 : PPID 등 여러 조건으로 필터링/정렬 기능 제공

2. 웨이퍼 상세 조회

• Stacked Wafer Map : 각 step 별 결함을 조회
  

• IPU Patch 조회 : 결함을 클릭하여 상세 이미지 조회

• Macro/Golden 조회 : 확대/축소, 그리기 기능을 포함한 Macro/Golden 조회

• EBR 조회 : EBR 조회 기능

• 모듈 네트워크 조회 : 모듈 네트워크 상태 확인 기능

🛠️기술 스택

• Frontend:
• BackEnd: 
• DataBase:
• Infrastructure:

⭐팀원 소개⭐

	김세진 Infra 인프라 구성 GitHub		박지훈 팀장, Backend Maker 서버 개발 GitHub
	오동규 Backend 통합 서버 개발 GitHub		정희수 Frontend 모니터링 페이지 개발 GitHub